雷達水位計通過向被測目標發射電磁波進一步確定具體的液位位置，發射的電磁波被介質反射。從雷達水位計的工作原理可以看出，儀表信號的穩定傳輸對液位測量非常重要。然而，在日常工作中，信號經常受到干擾，影響儀器測量的精度。為了減小干擾因素的影響，對雷達水位計的信號干擾源進行了分析?！　?/p>

　　一、內部干擾

　　內部干擾因素較大，如儀表中導線的干擾、電力變壓器電子元件之間的電感電容、內部元件的噪聲干擾等，目前大部分雷達水位計都經過了改進，采用了高頻微波技術，大大提高了液位計的性能，減少了干擾。

　　二、外部干擾

　　干擾不僅存在于雷達水位計內部，也存在于雷達水位計外部。常見的外部干擾因素包括：

　　1.機械干擾

　　機械干擾是指雷達水位計受到外部機器的強烈振動或沖擊，導致雷達水位計的某些部件發生振動甚至位移變形，也可能使表頭指針松動，造成測量誤差。在這種情況下，我們通常使用膜片、阻尼彈簧等來減輕沖擊。

　　2.化學干擾

　　化學干擾通常是指一些腐蝕性氣體，如酸、堿等。這些氣體的長期作用不僅會損壞儀器和內部部件，還會與金屬導電，影響雷達水位計的正常工作。

　　3.濕度干擾

　　當濕度增加時，絕緣體電阻將降低，電介質數量將增加，骨架將蓬松，電阻將增加，導致泄漏電流、電容、電感變化等增加。此外，它將軟化膠體，降低測量精度。

　　4.熱干擾

　　火力發電廠在運行過程中，其熱力設備會產生大量的熱量，引起周圍儀表和環境溫度的變化，這就是我們所說的熱干擾。這些干擾將影響雷達水位計的部件，導致測量不準確。

　　5.光學干涉

　　光干涉主要存在于半導體器件中。用于控制儀表的大多數部件由半導體材料制成。當半導體元件受到光的影響時，其導電性會發生變化，從而影響雷達水位計的正常使用。

　　6.天體和天體干涉

　　天體干擾是指它們發出的電磁波在一定程度上干擾雷達水位計發出的信號。